一文带你全面了解—X射线荧光光谱仪（XRF）原理及应用

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X射线荧光光谱仪（XRF）是一种重要的元素分析仪器，在地质、材料、环境等多个领域的元素检测中发挥着重要作用。本文将为您详细介绍XRF的工作原理及其应用范围。

X射线荧光光谱分析法（XRF）利用高能X射线与样品中原子发生作用的原理来确定样品中元素的组成和含量。X射线源（通常为X射线管）产生高能量的X射线，这些X射线穿透样品并与样品中的原子发生相互作用。在这些作用中，X射线能量足以将样品中的内层电子从原子中击出，形成空位。 当内层电子被击出后，外层电子会补充这些空位，释放出能量。这种能量释放称为荧光。每个元素的电子结构决定了其荧光的特定能量。因此，通过测量样品中发射出的荧光的能量和强度，可以确定样品中存在的元素种类和相对浓度。

图：X射线荧光 (XRF) 过程示例：①入射光子 ②特征光子

利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。