镀层测厚仪的测试原理

镀层测厚仪的测试原理

镀层厚度测量是加工工业和表面工程质量检测的重要环节，对于确保产品质量具有重要意义。随着技术的发展，特别是微机技术的引入，镀层测厚仪在微型化、智能化、多功能化、高精度化和实用化方面取得了显著进展。本文将详细介绍镀层测厚仪的测试原理及其应用。

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

随着技术的日益发展，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向迈进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用较广泛的测厚仪器。

工作原理

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的时间也可以在10秒到几分钟内完成。

台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

应用

X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应环保工艺准则，故市场上较普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右。

对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。

（1） 荧光X射线

（2） 散射X射线

（3） 透过X射线

产品是利用荧光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的荧光X射线法原理。和荧光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散射X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类