技术干货｜AEC-Q100：汽车电子芯片的可靠性测试与认证

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技术干货｜AEC-Q100：汽车电子芯片的可靠性测试与认证

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来源

https://www.cti-cert.com/new/27472.html

随着新能源汽车市场的不断扩大和技术的进一步发展，汽车芯片的需求和重要性将持续增加。在新能源汽车中，汽车芯片扮演着关键的角色。它们负责控制电池的充放电过程，监测电池状态和温度，确保电池的安全性和性能。同时，汽车芯片还控制电动机的转速和功率输出，实现车辆的动力控制和能量转换。此外，汽车芯片还负责管理车辆的充电系统、能量回收系统以及各种安全和驾驶辅助功能。

AEC-Q100

AEC-Q100是针对车载应用芯片产品设计的一套应力测试标准。该规范的主要目的是通过对芯片进行严格的可靠性验证，预防可能发生的各种状况或潜在的失效状态。

AEC-Q100规范于1994年6月首次发布，经过十多年的发展，已成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说，AEC-Q100是最常见的应力测试认证规范。

该规范要求对每个芯片进行标准规范的测试，以确保其功能性和可靠性。通过进行各种应力测试，如温度循环测试、湿热循环测试、振动测试等，可以验证芯片在各种环境条件下的稳定性和可靠性。这些测试有助于提升产品的可靠性与质量，降低芯片在使用过程中出现故障或失效的风险。

AEC-Q100关键测试类别

1、加速环境应力测试

测试项目	缩写	检测方法
预处理	PC	J-STD-020JESD22-A113
有偏温湿度或有偏高加速应力测试	THB/HAST	JESD22-A101JESD22-A110
高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试	AC/UHST /TH	JESD22-A102JESD22-A118JESD22-A101
温度循环	TC	JESD22-A104
功率负载温度循环	PTC	JESD22-A105
高温储存寿命测试	HTSL	JESD22-A103

2、加速寿命模拟测试

测试项目	缩写	检测方法
高温工作寿命	HTOL	JESD22-A108
早期寿命失效率	ELFR	AEC Q100-008
非易失性存储器耐久	EDR	AEC Q100-005

3、封装组合完整性测试

测试项目	缩写	检测方法
绑线剪切	WBS	AEC Q100-001
绑线拉力	WBP	MIL-STD 883 Method2011
可焊性	SD	J-STD-002
物理尺寸	PD	JESD22-B100JESD22-B108
锡球剪切	SBS	AEC Q100-010
引脚完整性	LI	JESD22-B105
Bump剪切	BST	JESD22-B117

4、芯片晶元可靠度测试

测试项目	缩写	检测方法
电迁移	EM	/
经时介质击穿	TDDB	/
热载流子注入	HCI	/
偏压温度不稳定性	BTI	/
应力迁移	SM	/

5、电气特性确认测试

测试项目	缩写	检测方法
应力测试前后功能参数测试	TEST	规格书
静电放电（HBM）	HBM	AEC-Q100-002
静电放电（CDM）	CDM	AEC-Q100-011
闩锁效应	LU	AEC-Q100-004
电分配	ED	AEC-Q100-009
故障等级	FG	AEC-Q100-007
特性描述	CHAR	AEC-Q003
电磁兼容	EMC	SAE JI752/3
短路特性描述	SC	AEC-Q100-012
软误差率	SER	JESD89-1JESD89-2JESD89-3
无铅（Pb）	LF	AEC-Q005

6、缺陷筛选测试

测试项目	缩写	检测方法
过程平均测试	PAT	AEC-Q001
统计良率分析	SBA	AEC-Q002

7、腔体封装完整性测试

测试项目	缩写	检测方法
机械冲击	MS	JESD22-B104
变频振动	VFV	JESD22-B103
恒加速度	CA	MIL-STD-883 Method2001
粗细气漏测试	GFL	MIL-STD-883 Method1014
包装跌落	DROP	/
盖板扭力测试	LT	MIL-STD-883 Method2024
芯片剪切	DS	MIL-STD-883 Method2019
内部水汽含量测试	IWV	MIL-STD-883 Method1018