分析天平的校准与管理

分析天平的校准与管理

分析天平是实验室中常用的精密测量仪器，其准确度直接影响实验结果的可靠性和准确性。为了确保分析天平的测量精度，需要对其进行定期校准和维护。本文将详细介绍分析天平的校准与管理方法，包括检查与校验、计量技术要求、日常校准前准备、日常校准方法以及校准结果不合格的处理等内容。

检查与校验

（1）天平使用人员在使用前必须检查计量合格证的时限，如发现标签过期、丢失或任何仪器性能问题，立即报告部门负责人，联系计量人员进行确认。

（2）天平每年安排外部计量/校验一次，计量合格的贴合格标签。

（3）外部校准所用校准砝码应经过检定，并在检定期内。（标准砝码经计量局检定，并有检定证书，每年检定一次）。

计量技术要求

准确度级别

天平按照检定分度值（e）和检定分度数（n），划分成下列四个准确度级别：

• 特种准确度级------------------------ 符号为I
• 高准确度等级------------------------ 符号为II
• 中准确度等级------------------------ 符号为III
• 普通准确度级 ------------------------ 符号为Ⅳ

本公司的天平准确度级别有I 、II、III级。

称量环境的要求

（1）分析天平应放在一个气流稳定、温湿度合适的房间，防止震动、气流干扰和电磁干扰等。

（2）如果在操作说明书中没有指定特殊的工作温度，则天平应在10℃～30℃的温度条件下正常工作，如果在操作说明书中指定了特殊的工作温度界限，则按说明书要求；对于I级天平相对湿度不大于80%，对于II 、III 级天平应不大于85%。

（3）平常注意分析天平不要随意搬动。

最大允许误差

电子天平最大允许误差的计算

注：如果新购不同规格天平按上表计算允许误差。任何一次单次称量结果的误差，应不大于相应载荷的最大允许误差。

日常校准前准备

（1）用于精准控制重量的天平必须每天在第一次使用前对天平进行日常校准一次，更换位置或切断电源都需要重新校准。

（2）天平接通电源，需要预热1个小时以上，检查天平水准器内的气泡是否位于水准器圆的中心位置，否则应予调节使处于水平位置状态。

（3）开启天平自检功能，稳定半个小时以上。若校准前在开机状态，可跳过此步骤。

（4）校准时应带手套，并用镊子夹取校准砝码。

日常校准方法

外观检查

目视天平外观无损；检查天平的检定分度、最小标示称量Min、最大标示称量Max等出厂标记是否齐全。

内部/自动校准

（1）首先检查天平是否水平，若不水平，则需通过调节天平的地脚螺栓使水平仪内的气泡位于圆圈中。

（2）天平在初次接通电源或长期断电开机时需进行预热，预热时间视不同品牌的要求而定。

（3）当天平秤盘上无称量物时，应稳定地显示为零位。

（4）不同天平依据各自的SOP进行内部校准。

外部砝码校准

（1）一般砝码规格：1mg、2mg、5mg、10mg、20mg、50mg、100mg、200mg、500mg、1g、2g、5g、10g、20g、50g、100g、200g。根据分析天平称量量程选择所用砝码。

（2）天平一般选用三点校准法，选取三个称量点校准。

（3）电子天平每天使用前根据物料重量的范围选择最大、最小标准砝码或者选取该电子天平量程的最大最小来选择标准砝码（不允许过载）。

外部校准步骤

（1）天平称盘空载，按“→0/T←”键，待天平归零后，从零载荷开始往上加载砝码，用镊子依次将所需标准砝码置于称量盘中心位置上。

（2）每次加载待稳定后，记录称量值，每次卸载后也要等到稳定后方可读数，并进行记录数值和相关信息；

（3）计算各标准砝码称量值与实际值的误差。称量打印条也应黏贴在记录中的相应位置。

例如下表，为万分之一天平的校准记录。

（4）误差计算

m=S（砝码的标称值）+a(砝码质量修正值)

（砝码质量修正值适用于I级天平，II、III级直接用砝码标称值）。

E=P-m

注：E为示值误差，P为显示示值，m为砝码实际值

（5）校准时测定值和真实值之间的误差在±0.1% 以内。见下表：

示值误差（根据天平精度、等级和称量范围确定，供参考）

注：在符合天平称量范围情况下，可以根据实际情况增减校验点。

（6）其他类型天平（供参考）

校准结果不合格的处理

若校准失败，检查天平是否水平放置在水平桌面，没有震动；检查电源连接是否有问题；确保没有不利的环境因素，排除这些因素重新校准一次，如果通过即可，若还是没有过，也找不到原因，通知部门仪器管理员，联系维修，如需维修，维修后必须重新校准合格后方能使用。

以上是根据公司具体的天平精度和称量范围及使用经验等，综合考虑制定的允差范围，可供大家参考。总体原则参考《JJG1036-2022电子天平检定规程》执行。

本文原文来自仪器信息网