灯具可靠性之关键：高低温冲击试验全面解析

灯具可靠性之关键：高低温冲击试验全面解析

在产品开发过程中，可靠性试验是确保产品质量和性能的关键环节。对于灯具产品而言，高低温冲击试验尤为重要，它能够模拟产品在极端环境下的工作状态，从而检验其耐气候性能。本文将通过广东贝尔合作过的灯具案例，深入探讨灯具所需进行的高低温冲击试验，以供用户参考。

高温对灯具的影响

高温环境对灯具构成了多方面的挑战。灯具的塑胶外壳可能因无法承受高温而脆化破坏；灯管在温度急剧变化时面临烧坏的风险；照明灯的电路板芯片在冷热冲击下容易发生短路。因此，对灯具进行高温测试显得尤为重要。

高温试验方法

1. 将灯具置于温度设定为60℃的高低温试验箱中。
2. 通过调压器将灯具的输入电压调整至大额定输入电压的1.1倍，以模拟极端电压条件。
3. 接通电源，让灯具持续点亮24小时，期间密切观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象。
4. 点灯测试完成后，通过继电器控制灯具在此高温环境下进行冲击测试。测试设置为：点灯20秒、熄灯20秒，循环100次。

高低温度冲击试验机

高温测试要求

1. 灯具在经过高温高压测试后，表面不得出现脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
2. 灯具在温度冲击试验后，不得发生漏电、点灯不亮等电气异常现象，确保电气性能的稳定。

低温对灯具的影响

灯具作为由多种电子元器件和结构件组成的照明产品，在低温环境下其性能也会发生显著变化。特别是半导体器件和电解电容等关键部件，在低温下的性能表现尤为重要。

低温对关键部件的影响

1. 开关管：在低温环境下，开关管的载流子密度和活性都会降低，导致过载保护的启动点降低。
2. 电解电容：低温环境下，电解电容的电解液易冻结（不同制作工艺的电解液耐低温能力有显著差异），容值降低，失去电容效应，无带载能力，可能导致LED驱动启动异常。同时，随着温度的降低，电容的ESR（等效串联电阻）会急剧增大，导致电解电容对纹波的抑制能力降低，电压纹波随之变大。

高低温冲击试验箱

低温试验方法

1. 将灯具放置在温度设定为-15℃的高低温试验箱中。
2. 通过调压器将灯具的输入电压调整至小额定输入电压的0.9倍，以模拟极端低电压条件。
3. 接通电源，让灯具持续点亮24小时，期间密切观察灯具是否有损坏、材料变形等异常现象。
4. 点灯测试完成后，通过继电器控制灯具在此低温环境下进行温度冲击试验。测试设置为：点灯20秒、熄灯20秒，循环100次。

低温测试要求

1. 灯具在经过低温低压测试后，表面不得出现脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象。
2. 灯具在温度冲击试验后，不得发生漏电、点灯不亮等电气异常现象，确保在极端低温条件下的电气稳定性和可靠性。

广东贝尔为您提供了关于灯具进行高低温冲击试验的详细方法和目的。这些试验对于确保灯具在各种极端环境下的可靠性和稳定性至关重要。