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如何理解晶圆制造行业的Scaling效应

创作时间:
作者:
@小白创作中心

如何理解晶圆制造行业的Scaling效应

引用
与非网
1.
https://m.eefocus.com/e/1794193.html

半导体行业的Scaling效应可以通过三个“定律”来理解:摩尔定律、Dennard定律和Rock定律。这些定律共同构成了半导体技术发展的框架,理解它们对于推动技术创新和应对未来挑战至关重要。

1. 摩尔定律(Moore's Law)

摩尔定律由英特尔公司联合创始人戈登·摩尔(Gordon Moore)于1965年提出,指出集成电路上可容纳的晶体管数量每隔18-24个月就会增加一倍,同时价格不变或下降。

技术背景:

  • 晶体管密度:通过技术进步,半导体工艺技术节点(如从10nm到7nm再到5nm)不断缩小,每单位面积上的晶体管数增加。
  • 性能提升:更高的晶体管密度通常意味着更高的处理性能,因为在相同的芯片面积上可以集成更多的逻辑门和存储单元。
  • 成本效益:在摩尔定律的早期阶段,由于规模经济效应,单位晶体管的成本也在不断下降。

技术挑战:

  • 物理极限:随着制程技术不断向更小的工艺节点发展,遇到的物理和材料学挑战越来越大,比如量子隧穿效应和散热问题。
  • 成本增加:先进制程设备和研发费用极高,使得持续的微缩技术经济性受到质疑。

2. Dennard定律(Dennard's Law)

Dennard定律由Robert Dennard及其同事在1974年提出,指出当晶体管缩小时,功耗和电压成比例缩小,从而使得功率密度(每单位面积的功率消耗)保持恒定。

技术背景:

  • 动态功耗:功耗主要由动态功耗(动态功耗与电压的平方成正比)和静态功耗组成。
  • 电压缩放:Dennard定律假设晶体管电压可以随着尺寸缩小而降低,从而使得功耗不随晶体管密度增加而增加。

技术挑战:

  • 电压缩放的限制:随着技术节点继续缩小,降低电压变得越来越困难,导致Dennard缩放失效。
  • 漏电流问题:静态功耗(漏电流)随着晶体管尺寸缩小而增加,导致总功耗上升。

3. Rock定律(Rock's Law)

Rock定律由Arthur Rock提出,指出新一代半导体制造工厂(晶圆厂)的成本大约每四年翻一番。

技术背景:

  • 制造成本:制造晶圆的成本极高,包括设备、材料和运行费用。先进工艺节点需要更先进、更昂贵的设备。
  • 资本投入:建造和运营新一代晶圆厂需要大量的资本投入,导致进入门槛高和风险大。

技术挑战:

  • 经济性:随着制造成本急剧上升,仅有少数几家公司能够承担如此高昂的费用。
  • 投资回报:新一代技术的商业回报不确定,使得投资风险增加。
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