矢量网络分析仪同轴法测量原理及应用介绍
矢量网络分析仪同轴法测量原理及应用介绍
矢量网络分析仪（VNA）是微波电路和器件测量中不可或缺的工具，而同轴法作为其主要的测量方法之一，具有广泛的应用。本文将详细介绍VNA同轴法测量的基本原理、注意事项及其在不同场景下的具体应用，帮助读者深入了解这一重要测量技术。
一、同轴法测量原理
同轴法测量的基本原理如下：
待测设备通过同轴连接线与VNA端口相连。同轴线的特性阻抗一般为50Ω或75Ω，与VNA端口的匹配阻抗一致。
VNA发射微波信号，经过同轴线传输到待测设备。由于待测设备的阻抗与特性阻抗不匹配，会产生反射信号。
VNA接收反射信号和透射信号，根据幅相信息计算出S参数。常用的S参数包括反射系数S11、传输系数S21等。
通过分析S参数的幅值和相位，可以得到待测设备的阻抗、增益、损耗等特性。
二、同轴法测量注意事项
同轴法作为VNA测量的常用方法，需要注意以下几个方面：
同轴线的质量要求高，要求低损耗、低辐射、稳定的特性阻抗。常用的同轴线有RG-58、RG-223等。
连接处要求良好的接地和屏蔽，避免信号泄露和干扰。连接头如N型、SMA型要求严格匹配。
校准是同轴法测量的关键步骤，需要采用开路、短路、匹配负载等标准件进行标准校准，消除测试系统本身的误差。
待测设备的阻抗要尽量与同轴线特性阻抗匹配，否则会产生较大的反射，影响测量精度。
测量频率范围要考虑同轴线的截止频率，避免在高频段出现模式转换等问题。
同轴法测量对环境温湿度、振动等因素也比较敏感，需要注意相关因素的控制。
三、同轴法在VNA测量中的应用
同轴法在VNA测量中有广泛应用，主要包括以下几个方面：
无源器件测量：包括各种无源微波滤波器、耦合器、隔离器等的S参数测量。
有源器件测量：包括放大器、混频器等有源器件的S参数、噪声系数等测量。
天线测量：通过测量天线的反射系数S11，可以获得天线的阻抗特性、驻波比等参数。
电缆测量：可以测量各种同轴电缆的特性阻抗、衰减系数、延迟时间等参数。
集成电路测量：对集成电路中的微波/射频电路进行S参数测量，为电路设计提供依据。
总的来说，同轴法作为VNA测量的重要方法，在微波电路和器件的设计、优化、故障诊断等方面发挥着关键作用。随着微波技术的不断发展，同轴法测量技术也在不断完善和创新，为微波领域的研究与应用提供了有力保障。
本文原文来自CSDN博客