CPU封装形式解析：从传统到先进封装的技术演进

CPU封装形式解析：从传统到先进封装的技术演进

引用

CSDN

1.

https://blog.csdn.net/weixin_47895250/article/details/145782860

中央处理器（CPU）的封装技术是半导体制造的关键环节，直接影响芯片的电气性能、散热效率和物理可靠性。随着半导体工艺的不断进步，封装形式从早期的简单结构演变为复杂的多维集成方案。本文将系统解析CPU的主流封装形式及其技术特点。

一、传统封装技术

1. DIP（Dual In-line Package，双列直插式封装）

出现时间：1960年代

技术特点：
陶瓷或塑料外壳，两排引脚对称排列，通过插入主板插座实现连接。

典型应用：
Intel 8086（1978年）、Zilog Z80等早期处理器。

优劣势：
结构简单但密度低，引脚易损坏，频率上限不足1 MHz，已淘汰。

2. PGA（Pin Grid Array，引脚网格阵列）

技术分支：

• SPGA（Staggered PGA）：交错引脚布局（Intel Pentium Pro）
• CPGA（Ceramic PGA）：陶瓷基板（AMD Athlon XP）

典型应用：
AMD Ryzen（AM4插槽，1331引脚），Intel Pentium III（370引脚）。

优劣势：
引脚密度提升至1000+，但插拔易弯折，维护成本高。

3. LGA（Land Grid Array，触点网格阵列）

技术演进：

• 2004年：LGA 775（Intel Pentium 4）
• 2021年：LGA 1700（Intel Alder Lake，触点间距0.6mm）

物理参数：
LGA 1700尺寸45×37.5mm，触点密度提升至3倍于LGA 1151。

优劣势：
触点抗压强度高（>50N），但主板插槽成本增加30%。

4. BGA（Ball Grid Array，球栅阵列）

技术特点：
锡球直接焊接至主板，典型间距0.4–1.0mm。

典型应用：
移动平台（如Apple M1）、嵌入式系统（Intel Atom）。

优劣势：
封装高度降低40%，但不可更换，返修需专业设备。

二、先进封装技术

1. 2.5D封装

核心技术：

• EMIB（Intel Embedded Multi-Die Interconnect Bridge）：硅桥局部互连，带宽密度1000GB/s/mm²。
• CoWoS（TSMC）：硅中介层厚度100μm，支持4颗HBM2E堆叠。

应用案例：
NVIDIA A100（CoWoS-S，台积电7nm），Intel Ponte Vecchio（EMIB互连47颗芯片）。

2. 3D封装

技术分支：

• Foveros（Intel）：10μm微凸点间距，垂直带宽1TB/s。
• SoIC（TSMC）：混合键合技术，键合密度提升20倍。

典型产品：
Lakefield（Intel，1+4核3D堆叠），AMD Ryzen 7000（3D V-Cache，L3缓存扩容至192MB）。

3. 异构集成封装

技术方案：

• UltraFusion（Apple M1 Ultra）：2.5TB/s互连带宽，1140亿晶体管。
• Chiplet（AMD Zen系列）：IO Die与CCD分离，良率提升15%。

性能提升：
Zen 3架构通过Chiplet设计实现19% IPC提升。

三、封装技术发展趋势

1. 材料创新：
   玻璃基板（Intel 2024年计划）替代有机基板，布线密度提升10倍。

2. 热管理：
   微流道冷却（DARPA ICECool项目）降低热点温度30℃。

3. 光子集成：
   硅光互连（Ayar Labs）目标带宽10Tb/s，功耗降低50%。

四、总结

从DIP到3D封装，CPU封装技术已从单纯的物理保护演变为提升系统性能的核心手段。未来，随着摩尔定律逼近物理极限，先进封装将成为延续算力增长的关键路径。根据Yole数据，2027年先进封装市场规模将达650亿美元，年复合增长率达14%，标志着封装技术进入全新维度。