如何测量可控硅？附图解说明
如何测量可控硅？附图解说明
可控硅是一种重要的电子元件，广泛应用于控制电路的开关、频率、功率等。为了确保其正常工作和可靠性，对可控硅进行测量是至关重要的。本文将详细介绍如何测量可控硅的好坏。
直接测量法
电压测量
使用数字万用表或模拟万用表将可控硅引出的两个端口连接到表上，测试其电压、电流、电阻、功率等参数。这种方法可以快速地测量可控硅的性能，但是需要注意在高电压或高电流情况下的安全性。
反向测量法
通过正向和反向测试可控硅的电压，以确定其性能。这种方法可以用于测试可控硅的正向和反向电压。
串联测量法
使用串连电阻器来降低电流的测试方法，可以通过一个分流电路来测试可控硅的额定电流、电压、功率和反向电阻等。这种方法摆脱了可控硅对测试电路的干扰和噪声，是一个优点。
间接测量法
物理外观检查
首先要对可控硅进行外观检查，确保没有任何物理上的损坏，如裂纹、破碎、焊点松动等。这是最基础的一步，但也是最容易忽略的一步。
静态VI特性测试
将一个已知电压施加到可控硅的极性上，并测量器件上的电流。根据欧姆定律，可以计算恒定电流的电阻。通过这种方法可以判断可控硅是否在工作范围内，并且符合设定的VI特性曲线。
动态VI特性测试
通过施加一个宽脉冲信号来评估可控硅的性能。这种测试可以检测可控硅的响应时间、承受电流的容限等参数，从而确认可控硅是否在正常范围内工作。
温度测试
高温可能导致内部结构改变，影响可控硅的导电性能和稳定性。在测试过程中需要将可控文硅加热，并观察其温度变化。如果发现可控硅在高温下无法正常工作，这可能是其故障的原因。
热稳定性测试
长时间高负载给可控硅，并观察其温度变化和电流恒定性。如果可控硅能够在长时间高负载条件下保持稳定的温度和电流，那么它可以被认为是工作良好的。
万用表测量法
单向可控硅
用万用表R×1挡测任意两引脚间正反向电阻直至找到读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔所接引脚为控制极G，红表笔所接引脚为阴极K，另一空脚即为阳极A。然后保持黑表笔不动，将红表笔与阳极A断开，若指针指示几十至一百欧姆，则表明可控硅良好。
双向可控硅
先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A极（对单向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G极（对双向可控硅）。若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅，且红笔所接为K极，黑笔接G极，剩下即为A极。若正、反向测批示均为几十至几百欧，则必为双向可控硅。
常见问题解答
为什么在测量可控硅时需要进行多种测试？
多种测试可以从不同角度评估可控硅的性能，包括线性性能、阈值电压、直流抗压强度、反向电阻等。这些测试可以全面评估可控硅的工作状态和好坏。如何在测量过程中确保安全？
在测量过程中，应遵守安全规范，避免高电压或高电流对人体造成伤害。特别是在进行高电压或高电流测试时，应使用适当的保护设备，如绝缘手套和护目镜。如何选择合适的测量仪器？
选择合适的测量仪器取决于可控硅的类型和应用需求。数字万用表和模拟万用表是常用的测量工具。对于复杂的测试，可能需要使用专业的测试设备。
通过以上各种方法和步骤，可以全面评估可控硅的好坏。在实际操作中，应根据具体情况选择合适的方法，并严格遵守安全规范。