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内存时序定义详解【图文详解】

创作时间:
作者:
@小白创作中心

内存时序定义详解【图文详解】

引用
百度
1.
https://tieba.baidu.com/p/7356609688

内存时序参数是衡量内存性能的重要指标,其中tCL、tRCD、tRP和tRAS是最为核心的四个参数。本文将通过图文结合的方式,详细解释这些参数的含义及其对内存性能的影响。

本次介绍的主要是内存的四个主要时序以及BIOS下面几个参数:

  • tCL : CAS Latency Control “内存读写操作前列地址控制器的潜伏时间”
  • tRCD : RAS to CAS Delay"行寻址到列寻址延迟时间"
  • tRP : Row Precharge Timing"内存行地址控制器预充电时间"
  • tRAS : Min RAS Active Timing“内存行有效至预充电的最短周期”

下图是微星Intel主板BIOS的高级内存配置界面:

这是一条英睿达的铂胜 3000MHZ的8G内存,也就是大家常说的C9BJZ。标签上XMP标注的15-16-16-35 分别对应tCL-tRCD-tRP-tRAS ,1.35V是内存电源。

XMP即为内存经过厂家测试后,预设的内存频率参数,一般也就6-7个数字,其实不是很多,具体的下面杂七杂八的小参是靠主板厂商优化的。所以有一些用户自动XMP达不到XMP的数值,也有主板厂商调教偏弱的原因。


也就是最重要的时序,在稳定的前提下应该尽可能设低

tRAS : Min RAS Active Timing “内存行有效至预充电的最短周期”

这个参数也是最难讲的,有人把公式说tRAS=tCL+tRCD+2N(N=0,1,2...)
也有人说是tRAS>tRCD+8

这就给广大超频玩家带来了困惑。
这里主要涉及到一个新的概念突发(Burst),突发(Burst)是指在同一行中相邻的存储单元连续进行数据传输的方式,连续传输的所需要的时间称为突发长度(Burst Lengths,简称BL)。(方便大家记忆,举例固态硬盘区分连续读写和随机读写,随机读写延迟高,速度慢,随机读写就必须把读取数据的完整流程重新跑一遍,连续读写可以省掉很多时间)

在进行突发传输时,只要指定起始列地址与突发长度,内存就会依次地自动对刚刚激活的同行的存储单元进行读写操作,而不再需要列地址给具体信号,从行地址发出列地址命令后,数据的传输周期也就tRCD+BL,DDR4内存BL=8,这也就是为什么有人提供的参数是
最小值tRAS>tRCD+8。

但是很多内存为什么tRAS=tCL+tRCD+2N
Min RAS Active Timing “内存行有效至预充电的最短周期”

最短时间≠固定时间,很考验内存颗粒的水平。

这也就是为什么三星b die可以做到tRAS小于tCL+tRCD的重要原因。聪明的颗粒,能走近的绝对不走远,但是远路就乖乖按远路的时间走,但是如果傻傻的颗粒设计一个最短时间,他远路也按照最短时间走,就走不过去了。

自此四个时序就介绍完毕了,看完的肯定也是对这个感兴趣的朋友。

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