电池常用表征技术全解析:从成分到表面功函数的八大类表征手段
电池常用表征技术全解析:从成分到表面功函数的八大类表征手段
电池表征技术是新能源电池材料研究的重要工具。本文将从成分表征、形貌表征、晶体结构表征、物质官能团的表征、材料离子运输的观察、材料的微观力学性质、材料表面功函数和其他实验技术等八个方面,全面介绍锂电综合研究中用到的表征手段。
成分表征
电感耦合等离子体(ICP)
ICP-AES常用于物质元素及含量分析,满足实验室多种需求。ICP-MS为新技术,成本高但检测灵敏度更高,专长于痕量分析。Aurbac等利用ICP技术研究正极材料与电解液界面,通过调整温度和电解液成分,监测LiC(0)0(2)和LiFePO(4)在电解液中Co和Fe溶解度的变化,以优化减少溶解[1]。需注意,高浓度元素(>20%)检测时ICP误差大,建议采用其他方法。
二次离子质谱(SIMS)
通过热电子电离或氧等离子体轰击样品表面,TOF-SIMS技术探测溢出离子以分析样品成分及同位素分布,还能揭示成分纵向结构。0ta等利用此技术研究了亚硫酸乙酯添加剂对石墨负极和LiC(0)0(2)正极SEI膜成分的影响[2]。Castle等则通过SIMS探究了V(2)0(5)嵌锂后Li(+)在电极中的扩散路径[3]。
X射线光子能谱(XP5)
X射线光电子能谱(XPS)由瑞典Uppsala大学Kaisiegbahn教授团队于20世纪五六十年代发展,能测定表面元素及其化学状态,具有高能量、空间(微米级)和时间(分钟级)分辨率。
胡勇胜等利用XPS研究高电压下VEC在石墨表面生成的SEI成分,主要为C、0、Li,结合FTIR确认主要成分为烷氧基锂盐[4]。
电子能量损失谱(EELS)
利用入射电子激发材料表面电子的非弹性散射能量损失,分析能量损失位置可确定元素成分,EELS较EDX对轻元素分辨更优,能量分辨率高出1-2个量级,空间分辨率达10-10m级,能测薄膜厚度,具时间分辨力。结合DFT拟合EELS谱,可精确获取元素价态及电子态信息。A1.Sharab等采用STEM-EELS技术研究了氟化铁/碳纳米复合物电极材料在充放电过程中的化学元素、结构及铁价态分布[5]。
扫描透射X射线显微术(STXM)
新型谱学显微技术基于同步辐射与实验室X光源,融合X射线聚焦技术,利用透射X射线吸收成像原理,STXM实现纳米级高空间分辨三维成像,并获取化学信息。该技术无损且适用于复杂电池材料研究,支持原位测试。Sun等发现碳包覆Li(4)Ti(5)0(12)提升性能,通过STXM-XANES与TEM确认碳层均匀覆盖,厚度约5nm,STXM揭示C、Ti、0在颗粒中的分布特别是C层覆盖情况[6]。
X射线吸收近边谱(XANES)
是标定元素及其价态的技术,不同化合物中同一价态的同一元素对特定能量X射线有高的吸收,称之为近边吸收谱。在锂电池领域中,XAS主要用于电荷转移研究,如正极材料过渡金属变价问题。
Kobayashi等用XANES研究了LiNi(0.80)Co(0.15)Al(0.05)0(2)正极材料。XANES检测到颗粒表面含有Li(2)Co(3)和其它额外立方相杂质[7]。
X射线荧光光谱分析(XRF)
利用初级X射线或微观离子激发物质原子产生荧光,进行成分与化学态分析。方法分波长色散的X射线光谱法和能量色散的X射线能谱法。据此,X射线荧光分析仪分光谱仪和能谱仪。
XRF广用于锂离子电池材料成分分析,部分元素检测灵敏度达10-9量级。
形貌表征
扫描电镜(SEM)
收集样品表面二次电子信息反映形貌与粗糙度,配EDS的SEM可分析元素种类、分布及含量。SEM虽分辨率逊于TEM,仍为电池材料表征基础工具。李文俊等设计新样品托架,用SEM研究金属锂电极在Li嵌入脱出时孔洞与枝晶形成过程[8]。
透射电镜(TEM)
材料表面与界面形貌特性在表面包覆及SEI文献中常见。TEM配能谱可分析元素种类与分布较SEM观察颗粒更小,高分辨TEM可观察晶格,原位TEM功能更强,可实时测量分析电池材料循环中形貌结构变化。黄建宇等用原位样品杆研究Sn02在离子液体中锂嵌脱过程,后改进实验装置,用Li上自然氧化锂作电解质,提升稳定性,保护电镜体[9,10]。
原子力显微镜(AFM)
纳米级平整表面的观察,在碳材料的表征中使用较多。
晶体结构表征
X射线衍射技术(XRD)
XRD技术可揭示材料晶体结构、结晶度、应力、取向、超结构等,反映块体材料平均晶体性质及晶胞参数变化,拟合后得原子占位信息。Thurston等首次将原位XRD应用于锂离子电池,利用同步辐射硬X射线观测电池中电极材料的晶格变化、相变及多相形成。
扩展X射线吸收精细谱(EXAFS)
EXAFS技术利用X射线与样品电子作用,吸收特定能量光子反映材料局部结构差异,具能量时间分辨力,获取晶体结构信息如径向分布、键长等。常需同步辐射光源。Jung等用EXAFS研究嵌Sn0(x)/Cu0(x)碳纳米负极,发现其无序结构促进Sn0(x)颗粒特殊分布,提升电化学性能[12]。
中子衍射(ND)
锂离子电池材料中,大原子阻碍X射线精确探测锂占位。中子对锂敏感,故中子衍射在研究中起关键作用。Arbi等利用中子衍射确定了LATP固态电解质中Li(+)占位[13]。
核磁共振(NMR)
NMR具备高能量与空间分辨力,可探测材料化学信息并成像,应用于枝晶反应、锂离子自扩散系数测定及颗粒内部相变研究。Grey等深入研究了NMR在锂电正极材料中的应用,发现NMR谱能揭示丰富的化学信息及局部电荷状态,包括顺磁/金属态材料探测,以及掺杂引起的电子结构微变,反映元素化合态。结合同位素示踪,还能研究电池副反应[14]。
球差校正扫描透射电镜(STEM)
用途:用来观察原子的排布情况、原子级实空间成像,可清晰看到晶格与原子占位;对样
品要求高;可以实现原位实验Oshima等利用环形明场成像的球差校正扫描透射显微镜(ABF-STEM)观察到了Li(2)VO(4)中Li、V、0在实空间的原子排布[151。
Raman
早期用拉曼光谱研究LiC(0)0(2)的晶体结构,LiC(0)0(2)中有两种拉曼活性模式,Co-0伸缩振动Alq的峰与0-Co一0的弯曲振动Eg的峰[16]。也多用于锂离子电池中碳材料石墨化程度的表征分析。
官能团的表征
拉曼光谱(RS)
拉曼光谱由印度物理学家拉曼发现,可揭示分子振动与转动信息,尤适低极性对称分子激发下展现强拉曼活性。在锂电电极材料表征中,为避干扰,结合原位技术使用。拉曼光谱对材料结构、配位及氧化态敏感,适用于过渡金属氧化物测量。针对灵敏度不足,采用Au、Ag等金属表面处理增强信号,即SERS。Peng等通过SERS证实锂空电池充放电中Li02为中间产物,放电为两步反应,充电为不对称一步反应,Li202难分解致充电极化大[17]。
傅里叶变换红外光谱(FT-IS)
红外光谱与拉曼相似,互补性强,专注分子振动吸收。红外光谱分近、中、远红外区,分别测倍频吸收、分子振动及转动信息。水极性强,干扰红外测量,需KBr压片处理样品。红外光谱常与傅里叶变换结合,成FITR,广泛应用于锂电电解液研究。Mozhzhukhina等通过红外光谱研究锂空电池电解液DMSO稳定性,发现超氧根离子攻击致其不稳,S02信号显现,反应难避,低电位下亦如此[18]。
深紫外光谱(UV)
主要用于溶液中特征官能团的分析。
材料离子运输的现象
中子衍射(ND)
结合最大熵模拟分析方法可以得到电极材料中的Li(+)扩散通道的信息[19]
核磁共振(NMR)
测得一些元素的核磁共振谱随热处理温度的变化,测得Li(+)的自扩散系数
Gobet等用NMR技术研究了B-Li3PS4中1H、6.7Li、31P核磁共振谱随热处理温变,并测得Li(+)自扩散系数,与先前Li(+)电导率报道相符[20]。
原子力显微镜系列技术(AFM)
AFM利用针尖与样品间范德华力反馈表面形貌,具高空间(约0.1)和时间分辨率,无能
量分辨能力。1996年起用于锂电研究。Zhu等用固态电解质磁控射制全电池,insitu
AFM监测Ti02负极形貌随三角波电压变化[21]。
材料微观力学性质
电池材料一般为多晶,颗粒内部存在应力。在充放电过程中锂的嵌入脱出会发生晶格膨胀收缩,导致局部应力发生变化,进一步会引起颗粒以及电极的体积变化、应力释放、出现晶格堆垛变化、颗粒、电极层产生裂纹。
AFM与纳米压印技术,结合TEM中的纳米/STM探针联合测试技术
观察形貌特征,在采用固态电池时可以进行原位力学特性、应力的测量
Jeong等采用AFM原位观察了HOPG基面在循环伏安过程中形成的表面膜的厚度[22]
SPM探针
用途:研究SEI膜的力学特性在接触模式下,以恒力将探针扎入膜,便可得到该处扎入深度随力的响应曲线,进而可以得到杨氏模量等信息[231。
材料表面功函数
开尔文探针力显微镜(KPFM)
Aqpure等用KPFM测老化锂电表面电势,发现老化电池表面电势更低,归因于颗粒尺寸表面相变及新沉积物性质影响[24]。
电子全息
Yamamoto组电子全息法观测全固态锂电充放电电势变,获不同体系界面电势分布,证实电势集于正极/电解质界面[25]。
光发射电子显微镜(PEEM)
用于得到表面电势的分布
其他表征技术
除了上述,在实际的实验中,还会用到一些其他的表征技术,比如:
角分辨光电子能谱(ARPES)
用途:直接测量材料能带结构;
DFT计算
用途:获得材料的电子结构;
电子淹没技术(PAT)
用途:测量缺陷结构和电子结构;
卢瑟福背散射(RBS)
用途:可以测量薄膜组成;
共振非弹性X射线散射(RIXS)
用途:研究原子问磁性相互作用;
俄歇电子成像技术(AES)
用途:直接探测颗粒、电极表面锂元素空间分布,通
过Ar离子剥蚀还可进行元素深度分析等。