固态硬盘寿命计算与检测方法详解
固态硬盘寿命计算与检测方法详解
固态硬盘（SSD）的寿命如何计算？固态硬盘的质量又该如何检测？本文将为您详细解答这些问题。
固态硬盘寿命计算原理
与机械硬盘不同，固态硬盘的寿命不能用通电时间来衡量。固态硬盘的寿命是以P/E（编程/擦除）周期来计算的。每次将闪存单元完全擦写一次称为1次P/E周期。不同工艺的闪存芯片寿命不同，例如34nm的闪存芯片寿命约为5000次P/E，而25nm的寿命约为3000次P/E。
以三星750 EVO 250GB SSD为例，其PE为500，那么该SSD的写入总量大约为：
500 * 250GB = 125000GB = 125TB
也就是说，当该SSD的写入总字节量达到125TB时，就接近其使用寿命的极限。实际上，经过测试，即使写入量达到200TB，SSD仍然可以使用，只是性能会急剧下降。
固态硬盘检测方法
要检测固态硬盘的使用状况和健康状况，可以使用以下三种工具：
1. Samsung Magician（三星固态硬盘魔法师）
这是三星官方推出的SSD检测工具，只能用于检测三星的SSD。通过该工具可以查看SSD的写入总量、通电时间等信息。
2. CrystalDiskInfo
这是一个通用的硬盘检测工具，可以检测各种品牌的SSD。通过该工具可以查看主机写入总量、通电时间、B1闪存磨损平均数等关键指标。其中，B1闪存磨损平均数的满分是100，数值越大表示磨损越少。
3. 鲁大师
鲁大师是一款常用的系统检测工具，其中也包含了硬盘检测功能。通过鲁大师可以检测硬盘的坏块情况和SMART信息，帮助判断硬盘的健康状况。
实际案例分析
以三星750 EVO 250GB SSD为例，以下是使用上述工具进行检测的结果：
首次测试时间：2017年1月23日
主机写入总量：1064GB
通电时间：779小时
B1闪存磨损平均数：98
4个月后测试时间：2017年5月23日
主机写入总量：2068GB
通电时间：1537小时
B1闪存磨损平均数：95
6个月后测试时间：2017年7月23日
主机写入总量：3450GB
通电时间：1907小时
B1闪存磨损平均数：91
从测试结果可以看出，随着使用时间的增加，主机写入总量和通电时间都在增加，而B1闪存磨损平均数则在逐渐下降。当这个数值降到60以下时，就表示SSD即将报废。
总结
要检测固态硬盘的健康状况，可以使用上述三种工具中的任意两个进行检测，结果一致即可。购买二手固态硬盘时，一定要注意查看写入的字节总量和通电时间，这两个指标对于判断SSD的剩余寿命非常重要。