静电放电致图像卡死，电子产品试验故障原因剖析

静电放电致图像卡死，电子产品试验故障原因剖析

静电放电（ESD）问题是电子产品设计和测试中常见的挑战之一。本文通过一个具体案例，详细介绍了在静电放电试验中遇到的图像卡死问题，并通过分析原因和实施整改方案，最终解决了这一问题。这个案例不仅展示了静电放电问题的复杂性，也为相关领域的技术人员提供了宝贵的参考经验。

01 异常现象

某信息技术类产品依据标准GB 9254.2进行静电放电试验。对塑料外壳进行空气放电±8kV时，在某一个点特别容易出现图像卡死的问题，大约20s后可恢复正常。外壳其它地方相对好一些，没那么容易卡死。

02 原因分析

因为是塑料外壳产品，外壳不接地，静电没有通过外壳接地的泄放路径。所以大部分的静电电荷会通过物体间的寄生电容，形成泄放路径。这种情况通常要重点查看，容易出问题的敏感点，结构以及对应区域的电路是否存在抗干扰性差的电路。

查看产品结构如下图所示。静电测试点内部便是图像传感器芯片的散热片，该散热片与外壳的间距仅有2mm，并且未做接地处理。测试点施加的是空气放电，静电枪放电头是椭圆形，其放电接触面积较接触放电的枪头要大，与散热片间的电荷影响更明显 。因此这类空气放电的耦合方式，以空间辐射耦合为主。

如下图所示，列出了整体中的几个主要寄生电容的位置。分