Underfill工艺常见问题及解决方案
Underfill工艺常见问题及解决方案
Underfill工艺是集成电路封装中的一种重要工艺，主要用于缓解芯片封装中不同材料之间热膨胀系数不匹配带来的应力集中问题。然而，在实际应用中，该工艺可能会遇到一些常见问题，如空洞和气泡等。本文将详细介绍这些常见问题及其解决方案。
Underfill工艺是一种集成电路封装工艺，用于在倒装芯片边缘点涂环氧树脂胶水，通过“毛细管效应”完成底部填充过程，并在加热情况下使胶水固化。该工艺在缓解芯片封装中不同材料之间热膨胀系数不匹配带来的应力集中问题，提高器件封装可靠性方面起着重要作用。
Underfill工艺常见问题
在实际应用中，Underfill工艺可能会遇到以下常见问题：
空洞问题
流动型空洞：这种空洞是在底部填充胶流经芯片和封装下方时产生，流动波阵面的前沿可能会包裹气泡而形成空洞。
水气空洞：这类空洞通常发生在底部填充胶固化时遇上基板除气排出的水气的情况，尤其在有机基板中更为常见。
流体胶中气泡产生空洞：对流体胶材料的处理不当或从供应商处收到流体胶材料后又对它进行重新分装可能会引入气泡。
沾污空洞：助焊剂残渣或其他污染源也可能通过多种途径产生空洞。
气泡问题
胶水固化后可能产生气泡，这通常是由于水蒸气造成。
解决方案
针对上述问题，可以采取以下解决方案：
在点胶过程中避免加热，确保胶水完全渗透到整个封装结构后再进行固化。
在点胶前烘烤板子，使胶水充分回温，以避免气泡的产生。
对于锡球周围产生的空洞问题，可以通过预热板子来加快胶水的流动速度，但同时确保空气有足够的时间排出。
需要注意的是，Underfill工艺的可靠性受多种因素影响，包括胶水的材料特性、工艺参数、设备精度等。因此，在实际应用中，需要根据具体情况调整和优化工艺参数，以确保封装质量和可靠性。同时，对于复杂和先进的封装结构，可能需要采用更高级的工艺技术和设备来满足更高的要求。
此外，随着封装技术的不断发展，对于Underfill工艺的研究也在不断深入。例如，对于新型封装材料、新型胶水的研究，以及对于工艺参数的精确控制等，都在为提高Underfill工艺的可靠性和效率做出贡献。
总的来说，虽然Underfill工艺在实际应用中可能会遇到一些问题，但通过合理的工艺参数调整和优化的设备使用，可以有效地解决这些问题，确保封装质量和可靠性。