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中国ALD设备行业发展深度研究与投资前景分析报告(2024-2031年)

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中国ALD设备行业发展深度研究与投资前景分析报告(2024-2031年)

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https://m.chinabaogao.com/detail/736121.html

原子层沉积(ALD)设备是半导体制造中的关键设备之一,近年来在逻辑芯片、3D DRAM和3D NAND等领域的应用日益广泛。随着技术的不断进步,ALD设备的市场规模持续增长,预计2020-2025年全球ALD设备年复合增速达26.3%。目前,该领域主要由荷兰ASM、日本TEL等国际巨头主导,但中国企业在该领域的国产化突破已取得重要进展,部分产品性能已可媲美国际产品。

ALD设备在薄膜沉积设备中的地位

原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)设备是薄膜沉积设备的重要细分种类。目前,ALD设备市场占有率仅为11%,远低于CVD设备(56%)及PVD设备(23%)。然而,随着半导体技术的不断发展,ALD设备在45nm及以下制程中发挥着重要作用,特别是在逻辑芯片进入GAA时代以及3D DRAM、3D NAND的发展中,其重要性日益凸显。

三种薄膜沉积技术对比

技术路线
沉积原理
沉积过程
沉积速度
均匀性控制能力
薄膜质量
阶梯覆盖能力
工艺环境
PVD
物理气相沉积
成核生长
5nm左右
化学配比一般,针孔数量高,应力控制有限
对真空度要求高,镀膜具有方向性
CVD
化学气相反应
成核生长
0.5-2nm
具有很好的化学配比,针孔数量少,具有应力控制能力
对工艺参数敏感
ALD
化学表面饱和反应
逐层饱和反应
0.07-0.1nm
具有很好的化学配比,针孔数量少,具有应力控制能力
工艺参数可调整范围大

下游应用驱动ALD设备需求增长

逻辑芯片

GAA技术采用钼金属取代传统的CVD钨和PVD铜以降低电阻,并提高芯片速度和整体性能。ALD可以提升钼等新金属的粘附性和稳定性,使其在微缩工艺下仍然保持优异的性能;GAA技术依赖于选择性沉积工艺以增加准确性并减少成本,而ALD可以在高纵横比结构中实现均匀沉积的特性在其中至关重要。此外,硅外延也是GAA的一项关键技术,用于构建晶体管的核心——纳米级厚度硅片。随着逻辑芯片进入GAA时代,ALD设备需求将随之增加。

3D DRAM

3D DRAM的发展需要进一步依赖ALD和EPI工艺,以支持更复杂的堆叠结构。这些工艺能够确保在高纵横比的结构中实现均匀沉积,并优化接触电阻,从而提升存储密度和性能。

为了实现DRAM架构(如6F²)的持续缩放和高密度化,需要新的ALD和EPI工艺:低电阻字线金属通过ALD沉积的高导电性金属层,减少了字线的电阻,提升了数据传输速度; Low-K间隙和气隙结构能够降低寄生电容,减少信号干扰,提升数据读取性能; ALD技术可以沉积高质量的氧化物层,确保DRAM中晶体管的可靠性和性能; Epi工艺可生成均匀的低电阻接触材料,提升电流流动效率。

在DRAM的外围电路部分,ALD和EPI工艺也有重要作用: ALD高K材料(HfSiO和HfO)用于提高电容器的介电性能和存储单元的稳定性;偶极层(LaO)和工作函数金属(TiN)通过ALD工艺实现,确保晶体管的阈值电压控制更精准;外延EPI材料用于应变增强,提高电荷迁移率,从而提升电路性能。

3D NAND

3D NAND的叠层结构对ALD设备功能要求更高,多层次沉积使得ALD设备价量比重上升。3D NAND可以克服2D NAND 的容量限制,3D NAND 架构可在不牺牲数据完整性的情况下扩展到更高的密度。与存储单元水平堆叠的2D NAND 不同,3D NAND 使用多层垂直堆叠,以实现更高的密度、更低的功耗、更好的耐用性、更快的读写速度和更低的成本。为了实现3D NAND堆叠,需要在多个层次上进行精确的薄膜沉积,以确保每一层的厚度和均匀性符合设计要求。ALD(原子层沉积)技术在此过程中尤为关键,因为它们能够提供出色的薄膜均匀性和精确的厚度控制。相较于2D NAND,3D NAND中ALD比重由18%上升至26%。

数据显示,2020年全球ALD设备市场规模为19亿美元,根据预计,2020-2025年全球ALD设备年复合增速达26.3%,成为晶圆制造设备中增长最快的细分品类。

市场竞争格局

目前半导体ALD设备仍基本由荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)、美国泛林(Lam)和应用材料(AMAT)等境外厂商垄断,其中荷兰先晶半导体(ASM)、日本东京电子(TEL)是ALD设备行业的双巨头,两者市场占有率合计接近50%。

国产化突破

近年来,随着ALD技术因其良好的市场空间和丰富的应用场景受到关注,国内竞争者开始出现,代表包括微导纳米、拓荆科技和北方华创等。微导纳米设备主要为TALD,主要用于沉积金属薄膜,拓荆科技为PEALD设备,主要沉积SiO2等非金属薄膜。

半导体ALD设备的国产化实现了从0到1的突破,部分发展速度较快的厂商的产品性能甚至已可媲美国际产品。如微导纳米公司半导体ALD设备的设备产能、平均故障间隔时间、平均修复时间、均匀性、薄膜颗粒控制、金属污染控制等多个技术指标已达到国际同类设备水平,此外,反应源的可拓展性、机台稳定运行时间等部分指标数据占有优势。未来随着技术水平不断提升,国产设备有望快速占领市场。

与国际同类设备对比

产品关键性能参数
国际同类设备水平
微导纳米设备水平
设备产能(片/小时)
12
12
反应源(镀膜原材料)
2个(温度可控RT-200℃),2个反应气体源
4个(温度可控RT-250℃),2个反应气体源
机台稳定运行时间(Uptime)
80%
>85%
平均故障间隔时间(MTBF)
>200小时
>200小时
平均破片率(MWBB)
<1@100.000
<1@100,000
平均修复时间(MTTR)
<6小时
<6小时
薄膜片内均匀性(1sigma,3mmEE)
<1.2%
<1.2%
薄膜片间均匀性(1sigma,3mmEE)
<0.5%
<0.5%
薄膜颗粒控制
Adders<5@60nm
Adders<5@60nm
金属污染控制
<2E10(原子/平方厘米)
<2E10(原子/平方厘米)
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