光纤链路的测试75课件讲解

光纤链路的测试75课件讲解

光纤链路的测试

对光纤链路的测试主要是衰减测试和光缆长度测试，衰减测试就是对光功率损耗的测试。引起光纤链路损耗的原因主要有：

1. 材料原因。光纤纯度不够和材料密度的变化太大。
2. 光缆的弯曲程度。包括安装弯曲和产品制造弯曲问题，光缆对弯曲非常敏感。
3. 光缆接合以及连接的耦合损耗。这主要由截面不匹配、间隙损耗、轴心不匹配和角度不匹配造成。
4. 不洁或连接质量不良。低损耗光缆的大敌是不洁净的连接，灰尘阻碍光传输，手指的油污影响光传输，不洁净光缆连接器可扩散至其它连接器。

光功率计测衰减

对已敷设的光缆，可用插损法来进行衰减测试，即用一个功率计和一个光源来测量两个功率的差值。第一个是从光源注入到光缆的能量，第二个是从光缆段的另一端的射出的能量。测量时为确定光纤的注入功率，必须对光源和功率计进行校准。校准后的结果可为所有被测光缆的光功率损耗测试提供一个基点，两个功率的差值就是每个光纤链路的损耗。

1. 光纤衰减测试准备工作

• 确定要测试的光缆
• 确定要测试光纤的类型
• 确定光功率计和光源与要测试的光缆类型匹配
• 校准光功率计
• 确定光功率计和光源处于同一波长

2. 测试设备

• 光功率计
• 光源
• 参照适配器（耦合器）
• 测试用光缆跳线等

3. 光功率计校准

4. 光纤链路的测试
   测试按下图所示进行连接。测试连接前应对光连接的插头、插座进行清洁处理，防止由于接头不干净带来附加损耗，造成测试结果不准确。

向主机输入测量损耗标准值。

操作测试仪，在所选择的波长上分别进行两个方向的光传输衰耗测试。

报告在不同波长下不同方向的链路衰减测试结果。

光功率计只能测试光功率损耗，如果要确定损耗的位置和损耗的起因，就要采用光时域反射计（OTDR）。

OTDR测试

OTDR测试是通过发射光脉冲到光纤内，然后在OTDR端口接收返回的信息来进行。当光脉冲在光纤内传输时，会由于光纤本身的性质、连接器、接合点、弯曲或其它类似的事件而产生散射、反射。其中一部分的散射和反射就会返回到OTDR中。

返回的有用信息由OTDR的探测器来测量，它们就作为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。这样OTDR将光纤链路的完好情况和故障状态，以一定斜率直线（曲线）的形式清晰的显示在几英寸的液晶屏上。根据事件表的数据，能迅速的查找确定故障点的位置和判断障碍的性质及类别，对分析光纤的主要特性参数能提供准确的数据。

OTDR可测试的主要参数有：

• 测纤长和事件点的位置
• 测光纤的衰减和衰减分布情况
• 测光纤的接头损耗
• 光纤全回损的测量