SPC品质过程监控系统详解
SPC品质过程监控系统详解
SPC（统计过程控制）品质过程监控系统是现代制造业中不可或缺的质量管理工具。它通过实时监控生产过程中的关键参数，及时发现并预警异常情况，帮助企业实现持续改进和质量控制。本文将详细介绍SPC系统的架构、功能和具体应用场景。
SPC系统的物理架构主要表现为：现场层、执行层、展现层三层。生产现场主要执行数据采集，系统进行实时监控。执行层负责制定数据采集的规则及分析模型，通过对采集来的数据进行统计分析后，快速支持管理决策。执行层将统计分析的成果汇总成报表，及时展现给各领导。
SPC Monitor系统功能
SPC Monitor是标准的SPC控制流程，支持各种文件格式数据的导入，数据库数据的集成导入等等。
SPC Monitor RT是实时的SPC控制，侧重于品质控制过程的实时监控与报警，支持人机交互的数据采集，以及连接各种仪器仪表，测试设备，移动录入，以及通过MES系统导入等。
数据采集与录入
用户可自行定义录入模版，实现灵活的数据录入，数据录入文件可单独保存，数据同时可以上传到系统数据库中。基于录入模板，用户可建立类似于EXCEL格式的录入文件。
系统在录入数据的同时，可即时显示数据的图形及分析结果。用户可同时录入多个参数数据，用户在保存前允许操作人员进行修改，对于异常数据，系统将提示用户确认。
自动采集终端数据
数据采集服务端接收各类方式的录入数据，包括手工录入、连接仪器的自动采集、移动数据采集等等。
控制图设置与分析
用户按照标准SPC流程，对选定的关键品质参数设置控制图，包括选择控制图类型，确定样本容量，定义参数的规格值，以及填入控制图的基本信息。
针对每一个控制参数自由设定控制条件（规格、内控指标、控制线）。
SPC的数据分析采用自动分析的方式，在数据采集到系统后，系统进行自动的分析（包含各类控制图分析、工序能力分析等分析方法）并对问题点进行报警，用户只需点击相关的图表，查看及分析相应的问题，无需进行复杂的分析操作。
用户可在主监控面板中根据需要对系统中已录入数据设置分析及控制方法，监控结构可由用户根据需要进行自由设定。
进行多个参数的分析对比，进行多个参数或工序进行同时监控及分析对比，了解相关联参数的状况。
工序能力指数(CPK)是评估工序生产合格产品能力的重要参数，同时也是指导进行品质改善的重要分析方法，系统自动分析出每一工序或参数的CPK，并同时进行相应的评估。
原因分析与知识库
为用户品质的改进建立历史知识库，对相关问题进行分析及总结，切实使问题得到改善。同时，成翰SPC建有内部知识库，供品质管理人员进行查阅，协助解决相关问题。
工程师提交失控原因及处理措施后，需经由管理者审核后，才能生效，如原因分析或措施不当，管理者可否决相关内容，重新要求进行分析。
SPC提供的图表类型
计量型
- MEAN_RANGE_CHART; // Xbar-R(Mean and Range)图（均值－极差图）
- MEAN_SIGMA_CHART; // Xbar-S(Mean and Sigma)图（均值－标准差图）
- MEDIAN_RANGE_CHART; // Me-R(Median and Range)（中位数图）
- INDIVIDUAL_RANGE_CHART; // X-Rs(Individual Range )（单值－移动极差图）
- EWMA_CHART; //EWMA Chart – Exponentially Weighted Moving Average(指数加权移动平均值的控制图)
- MAMS_CHART;//MAMR Chart – Moving Average / Moving Sigma (移动平均线和移动范围)
- TABCUSUM_CHART;//Tabular CuSum Chart
- LEVEY_JENNINGS_CHART;//Tabular CuSum Chart
计数型
- PERCENT_DEFECTIVE_PARTS_CHART; P 图
- NUMBER_DEFECTIVE_PARTS_CHART; //NP图
- NUMBER_DEFECTS_CHART; //C图
- NUMBER_DEFECTS_PERUNIT_CHART; //U图
- NUMBER_DEFECTS_PER_MILLION_CHART;//Number Defects per Million (DPMO)
品质预警管控
- SPC系统根据设定的检测规则，每隔2小时采集一次检测点数据。
- SPC系统根据用户需求，输出X-bar图、P图、CPK图、柏拉图等图形。
- SPC系统根据用户的设定的预警规则，将预警的信息通过邮件或是其他消息的方式，推送到管理层的邮箱或者手机上。实现“异常预先制动的管理理念”。
品质预警应用
XBarR控制图：用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间、收率和生产量等计量值的场合。X控制图主要用于观察正态分布的均值的变化，R控制图主要用于观察正态分布分散或变异情况的变化，而X-R控制图则将二者联合运用，用于观察正态分布的变化。
NP控制图：用于控制对象为不合格品数的场合。设n为样本大小，P为不合格品率，则NP为不合格品个数，取NP为不合格品数控制图的简记记号。NP图用于样本大小相同的场合。