电容失效分析

电容失效分析

电容失效，指的是电容器在工作过程中由于各种原因导致其性能下降或完全丧失功能的现象。电容失效分析是对这一现象进行的系统性研究，以确定失效的原因并采取相应措施以提高电容器的可靠性和寿命。

电容失效的原因多种多样，主要包括：

1. 材料老化：电容器内部使用的绝缘材料和电极材料会随着时间老化，导致性能下降。
2. 温度影响：高温会加速电容器内部材料的老化过程，降低其使用寿命。
3. 电压应力：长期工作在高电压下，电容器可能会因电压应力而损坏。
4. 机械应力：机械振动或冲击可能导致电容器内部结构损坏。
5. 环境因素：如湿度、腐蚀性气体等环境因素也会影响电容器的性能。
6. 设计缺陷：电容器设计不当，如电极间距过小，也可能导致早期失效。
7. 制造缺陷：生产过程中的缺陷，如杂质、气泡等，可能导致电容器性能不稳定。

电容失效分析通常包括以下几个步骤：

• 故障检测：通过电学测试发现电容器的异常表现。
• 失效模式识别：确定电容器失效的具体形式，如击穿、漏电等。
• 原因分析：通过显微镜检查、化学分析等手段找出失效的根本原因。
• 改进措施：根据分析结果，对电容器的设计、材料选择或生产工艺进行改进。

通过电容失效分析，可以提高电容器的可靠性，延长其使用寿命，对于电子设备的整体性能和稳定性具有重要意义。

电容失效分析案例背景

某电容，在30V直流电压下，电容值衰减超过70%，现需分析其失效的原因。

电容失效分析过程

1. 外观检查

1#样品外观图

2#样品外观图

说明：光学显微镜检查表面未见明显异常。

2. CT扫描分析

1#样品CT扫描形貌图

说明：CT扫描检查结果未发现明显缺陷。

3. C-V曲线测试

1#样品CV测试结果

2#样品CV测试结果

说明：测试结果说明：1#样品C30V=0.440.50uF，2#样品C30V=0.430.44uF.

4. 切片检查

1#样品SEM图

2#样品SEM图

说明：将1#样品和2#样品分别切片，然后在金相显微镜下放大拍照观察 MLCC内部结构，1#样品电容内部存在镍瘤及热应力裂纹，2#样品未见异常。

5. EDS成分分析

1#样品EDS元素分析谱图

2#样品EDS元素分析谱图

说明：通过对样品剖面 SEM/EDS 分析， 1#样品电容内部电极层不连续，存在明显镍瘤；其镍瘤周围多条向外延伸裂纹并在裂缝通道内发现明显碳化痕迹，此为热应力裂纹裂纹的存在直接导致电容性能异常；而2#样品电容内部电极层连续陶瓷介质层致密未发现孔洞及镍瘤，电容性能良好。

电容失效分析结论

综合测试分析可知,导致产品测试异常的原因为：电容本身质量问题,其内部存在镍瘤,镍瘤的存在使热应力裂纹的萌生产生了可能。

电容失效分析建议

对 MLCC 每批来料进行抽检做切片分析,观察其内部结构是否存在来料不良问题。