电源管理芯片测试方法与ATECLOUD平台应用指南

电源管理芯片测试方法与ATECLOUD平台应用指南

引用

CSDN

1.

https://blog.csdn.net/namisoft123/article/details/138493466

电源管理芯片是电子产品中的关键组件，其性能直接影响到整个系统的稳定性和可靠性。因此，对电源管理芯片进行严格的性能测试至关重要。本文将详细介绍电源管理芯片的主要测试指标以及如何使用ATECLOUD测试平台进行自动化测试。

电源管理芯片的主要测试指标

电源管理芯片的性能测试主要关注以下几个关键指标：

• 输入/输出电压范围
• 输出纹波
• 电压调整率
• 负载调整率
• 反馈端电压
• 欠压关断及欠压恢复滞后
• 输入偏置电流
• 输出电流
• 输出电流限制
• 启动过冲及启动延时
• 负载跃变电压
• 负载跃变恢复
• 效率（每路）
• 效率曲线
• 工作开关频率
• SW占空比
• 输入输出信号相位差

测试设备

为了实现电源管理芯片的自动化测试，需要以下测试设备：

• 直流电源
• 电子负载
• 示波器
• 万用表
• ATEBOX（用于程控仪器与流程调动）
• 测试机柜（按需定制）
• 测试线缆：电源线、通讯线、测试线等

测试步骤

1. 在测试之前，需要将被测电源芯片、测试仪器、ATEBOX与测试PC正确连接。
2. 登录ATECLOUD测试平台，进入“方案运行”，选择已经创建好的测试方案，点击“运行”开始测试。系统通过ATEBOX程控仪器，并且会按照已经创建好的方案流程开始测试。
3. 测试过程中，系统会采集测试仪器所测的数据，并将数据、波形图实时展示在系统的测试面板中。测试结束后，系统会以Pass、Fail指标反馈测试结果，自动判别产品是否合格。
4. 测试结束后，在记录报告中查看测试详情，选择需要导出的数据和报告模板，导出测试报告。
5. 分析电源芯片的测试数据，可在数据洞察界面，用多类型图表展示数据，帮助分析、评估其性能。

ATECLOUD测试平台的优势

使用ATECLOUD测试平台进行电源管理芯片性能测试具有以下优势：

• 支持基本项目测试，快速分析产品性能
• 测试数据可导出为Word、Excel格式
• 支持自定义报告模板
• 内含数据洞察功能，可生成多种类型图表直观展示测试数据

通过上述方法，可以有效地评估电源管理芯片的性能，为芯片的优化和改进提供数据支持。