为啥固态硬盘的擦写次数只有千次，用完以后会坏吗？
为啥固态硬盘的擦写次数只有千次，用完以后会坏吗？
固态硬盘（SSD）以其高速读写和大容量存储能力，已经成为现代电脑的主流存储设备。但许多用户对其寿命存在疑虑，特别是听说SSD的擦写次数只有数千次时更是担忧。本文将为您详细解析SSD的寿命机制，解答这一常见疑问。
谁在决定固态硬盘的寿命
机械硬盘的寿命一般以年计算，而固态硬盘的寿命则是由闪存颗粒的“写入寿命”和“容量大小”决定。写入寿命即我们常说的擦写次数（P/E数）。闪存分为SLC、MLC、TLC及QLC等类型，随着容量的不断提升，它们的P/E数逐级下降。以目前主流的TLC颗粒为例，PE数在3000-5000次左右。
我们知道，固态硬盘内部闪存完全擦写一次消耗1次P/E。那是不是用完一块固态硬盘的PE数，它就要“挂”掉呢？
固态硬盘的寿命怎么计算
虽然擦写次数只有数千次，但它可不是个“短命鬼”。其实对于固态硬盘来说，读取数据是不消耗使用寿命的，关键还是在写操作。
计算SSD的最大寿命，一般可采用如下公式：
SSD寿命=(闪存P/E × SSD闪存容量)÷(写入放大系数 × 年数据写入量)
以一块512GB的SSD为例，其闪存P/E为3000，写入放大数值为5（较大值），年数据写入量为10000GB。可以得到：（3000512）/（510000）=1536000/50000=30.72年。
综上，一块512GB的固态硬盘，在每天写入约30GB，写入放大数值为5的情况下，最高寿命可以达到30.72年。这个数据可信吗？没错，但这是最大理论寿命，也就是说在这30.72年内，固态硬盘的各部件需完全正常，才可以达到这个使用寿命。
影响固态硬盘寿命的WAF
WAF (Write Amplification Factor, 写入放大值) 是影响固态硬盘寿命的关键指标之一。根据固态硬盘读写机制，在进行写入操作时，必须先将原有数据擦除，如此多次操作，实际增加的写入数据量与计划写入数据量的比值，就是所谓的“写入放大”。
举个例子，假设要写入5GB的数据，而要完成这个指令，SSD实际执行的数据可能是10GB，此时写入放大系数就是2。写入放大值越高则对固态硬盘寿命影响越大，所以，写入放大值越小越好。
衡量固态硬盘寿命的TBW
那么如何更直观的衡量一块固态硬盘的寿命呢？业界有个指标叫“TBW(Terabytes Written)”，指固态硬盘支持的总写入数据量，它是衡量SSD寿命的主要参数之一。
以某态TiPlus7100 1TB版为例，其支持600TBW总写入数据量，也就是614400GB数据的最小寿命。据统计，常规使用情况下，1TB的SSD基本四个月左右消耗1次PE，而随着容量的提升，相同工况下消耗的PE次数会逐渐下降，同款SSD容量越大则寿命越长。
当前，随着技术的不断发展，固态硬盘产品容量、价格优势愈发明显，产品质量相当稳定。日常使用下，即使用到电脑更新换代，SSD通常也可以正常使用。可以说只要没有不当的使用习惯，那对它寿命的担心，大可不必。